| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào) | | 主要技術(shù)指標(biāo) | 價(jià)格 |
| A/B掃描測(cè)厚儀
MVX | 美國(guó)達(dá)高特 | 脈沖-回波模式測(cè)量范圍：0.63～254mm
回波-回波模式測(cè)量范圍：2.54～102mm | 洽詢(xún)
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| 便攜式粗糙度儀
PS1 | 德國(guó)馬爾 | 最大測(cè)量范圍為 350 μm（0.014 in)（-200 μm 至 +150 μm）（-0.008 in 至 +0.006 in） | 洽詢(xún)
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| 粗糙度儀
TIME3100 | 時(shí)代儀器 | 測(cè)量范圍（μm ）Ra：0.05 ~ 6.5 ； Rz：0.1 ~ 50 | 洽詢(xún)
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| 手持式數(shù)字轉(zhuǎn)速表
DT-205L | 日本理音RION | 接觸
0.8-25000rpm
0.002-416.67rev/sec
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| 轉(zhuǎn)速儀
testo 465 | 德國(guó)德圖TESTO | 顯示屏 5-數(shù)字 LCD 顯示屏, 單行顯示
儲(chǔ)存溫度 -20 to +70 °C
操作溫度 0 to +50 °C
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| 激光測(cè)距儀
DISTO DXT | 瑞士徠卡LEICA | 測(cè)量精度(標(biāo)準(zhǔn)) ± 1,5 mm
測(cè)量范圍 0.05 m – 70 m
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| 激光測(cè)距儀
Pro sport 450 | 美國(guó)博士能BUSHNELL | 測(cè)距范圍
5-800碼（約5-730米）
| 洽詢(xún)
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| 激光測(cè)距儀
ELITE1500 ARC | 美國(guó)博士能BUSHNELL | 視野范圍
1000米處340英尺（約104米） | 洽詢(xún)
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| 超聲波測(cè)厚儀
DMS2TC | 美國(guó)GE | 測(cè)量范圍：0.2mm到635mm(鋼)，取決于探頭，材料和表面情況 | 洽詢(xún)
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| 超聲波測(cè)厚儀
UTG-22 | 星晟檢測(cè) | 測(cè)量范圍 1.2～225.0mm（鋼）
分辨率 0.01mm
| 洽詢(xún)
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| 時(shí)代超聲波測(cè)厚儀
TT700 | 時(shí)代儀器 | 測(cè)量范圍 0.15mm～20mm
| 洽詢(xún)
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| 超聲波測(cè)厚儀
TT300A | 時(shí)代儀器 | 測(cè)量范圍：0.75—300mm | 洽詢(xún)
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| 庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀
GalvanoTest 2000 | 德國(guó)EPK | 基礎(chǔ)型號(hào),可設(shè)置10種金屬的測(cè)量參數(shù) | 洽詢(xún)
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| 超聲波涂層測(cè)厚儀
QuintSonic 7 | 德國(guó)EPK | 測(cè)量范圍：300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層) | 洽詢(xún)
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| 渦流覆層測(cè)厚儀(原TT230)
TIME2501 | 時(shí)代儀器 | TT230的替代產(chǎn)品，測(cè)量范圍 0-1250μm | 洽詢(xún)
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| STODA涂層測(cè)厚儀
STD2200 | 國(guó)產(chǎn) | 測(cè)量范圍：0～1250μm | 洽詢(xún)
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| 涂鍍層測(cè)厚儀
QNix1500 | 德國(guó)尼克斯 | 顯示: LCD數(shù)字顯示
| 洽詢(xún)
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| 涂鍍層測(cè)厚儀
QNix keyless | 德國(guó)尼克斯 | 測(cè)量精度 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
| 洽詢(xún)
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| 涂（鍍）層測(cè)厚儀
MC-2000A | 國(guó)產(chǎn) | MC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um
MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um
MC-2000 D 型測(cè)量范圍：10-9000um | 洽詢(xún)
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| 鐵基涂層測(cè)厚儀
CM8820 | 蘭泰 | 分辨率: 0.1 um (小于100um)<br>
1 um (大于100um)<br>
最小測(cè)量面積：6mm<br>
最薄基底：0.3mm<br>
| 洽詢(xún)
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